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Particle X

一款可以幫助您全自動掃描樣品，抓取每一個顆粒幾何、成分特征，并能夠按照 ISO 標(biāo)準(zhǔn)自動將這些顆粒進(jìn)行分類統(tǒng)計的超實用解決方案！

近來，越來越多的制造企業(yè)將掃描電鏡（SEM）引入到了企業(yè)內(nèi)部的生產(chǎn)、檢測環(huán)節(jié)中，一些掃描電鏡質(zhì)檢的外包工作也逐漸在越來越多企業(yè)的內(nèi)部完成。

這樣一來，企業(yè)有充足的時間可以自主進(jìn)行大批量樣品檢測工作，也可以進(jìn)行更多更細(xì)分的實驗，從而得到更加充足的數(shù)據(jù)對樣品按照國家、標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行化學(xué)成分的分類及確認(rèn)，進(jìn)而可以更準(zhǔn)確地對樣品的質(zhì)量等級進(jìn)行判定。

及時、準(zhǔn)確的產(chǎn)品質(zhì)量判定對于現(xiàn)代制造企業(yè)越來越重要，在一定程度上是企業(yè)軟實力的體現(xiàn)。

然而，在進(jìn)行 SEM 分析檢測的時候，由于放大倍數(shù)高，視野較小，很難做到對樣品臺上的樣品進(jìn)行真正意義上的“全面檢測”。

檢測人員往往會隨機(jī)選擇十幾個或者幾十個隨機(jī)位置進(jìn)行拍照和能譜分析，以抽檢的形式判定產(chǎn)品的合格率?？墒请S著制造業(yè)水平的逐漸上升，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)日趨嚴(yán)格，對質(zhì)量檢驗工作的要求也更加精細(xì)化。這也要求在微觀分析層面，SEM 的檢定需要上升到更大的覆蓋面。

在一些特殊行業(yè)，對于樣品的分析甚至需要上升到“一個不差”的級別，比如 3D 打印領(lǐng)域，尋找粉體材料中夾雜的雜質(zhì)顆粒等。在樣品臺中數(shù)十萬顆顆粒樣品中尋求萬分之幾含量的雜質(zhì)顆粒的過程無異于大海撈針，僅僅依靠人工尋找所耗費(fèi)的時間成本巨大，準(zhǔn)確程度也可能與實際結(jié)果大相徑庭。對于這樣的檢測過程，引入自動化無疑是的解決方案。

飛納電鏡一直以小巧方便、皮實耐用而廣受研究人員、質(zhì)檢工作者們喜愛。2019年，飛納公司發(fā)布了一套專門用于解決 “大海撈針” 問題的全自動質(zhì)量檢測解決方案：Particle X。

Particle X 是一套集成了全樣品掃描、顆粒識別、自動能譜三種主要功能于一身的工具，可以 7 * 24 小時連續(xù)不間斷工作，幫助質(zhì)量檢測工作者檢查并判定樣品的質(zhì)量等級。下面以增材制造行業(yè) Particle X 的應(yīng)用場景和工作流程進(jìn)行說明。

增材制造（3D打?。┬袠I(yè)金屬粉料質(zhì)量檢測

如前文所述，在 3D 打印行業(yè)中，對原始金屬粉料的檢測和篩選工作對于終成品的質(zhì)量控制至關(guān)重要。的原始粉料應(yīng)具有非常均勻的幾何形狀（多為正球體）、良好的粒徑分布（大小均勻）、以及非常高的純度，這三個指標(biāo)的的合格與否將直接對產(chǎn)品的終質(zhì)量產(chǎn)生決定性作用。

在圖 2 中，我們可以看到在原始粉料中常見的三類顆粒，形狀、成分不合格的顆粒越少，該批次的粉料質(zhì)量等級越高。異形顆粒、雜質(zhì)的摻入會導(dǎo)致終產(chǎn)品出現(xiàn)不同程度的孔隙，進(jìn)而減弱成品的力學(xué)性能。

圖 2 質(zhì)量合格的粉料（左）、質(zhì)量不合格的粉料（中）、硅酸鹽夾雜物（右）

圖 3 粉料電鏡檢測視野示意圖

對圖 3 這樣一批電鏡視野下金屬粉料進(jìn)行抽樣檢測可以大致劃定樣品的質(zhì)量區(qū)間，但是若想非常的明確它的質(zhì)量等級，人工抽檢幾百顆粉末顆粒都不足夠按照新的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)給出確定的評級。

但是使用飛納 Particle X，這一過程就變得異常簡單且強(qiáng)大。我們只需將樣品放進(jìn) Particle X 電鏡，簡單幾個設(shè)置，電鏡就可以自動將樣品臺全部視野劃分成數(shù)個區(qū)域，自動識別每一顆顆粒（圖4），并在這些顆粒上做能譜分析。這一過程真正做到了“一顆不差”，取樣量巨大，得到的數(shù)據(jù)與實際情況高度一致，更重要的是，抓取、分析數(shù)據(jù)的全過程，都無需人工參與，根據(jù)樣品的多少，Particle X 可以實現(xiàn)連續(xù)幾個小時或數(shù)百個小時連續(xù)不間斷工作。

終，我們可以根據(jù)自己的需求利用 Particle X 自帶的生成報告模塊生成自己所需要的多種報表、圖表。

圖 4 Particle X 工作時將一個樣品臺分割成多個區(qū)域

圖 5 定制化報告——根據(jù)尺寸、成分制作的顆粒柱狀圖

小結(jié)

全新一代飛納 Particle X 桌面式掃描電鏡是一種高質(zhì)量的自動分析解決方案。

Particle X 具備超高速自動分析能力，并可以按照化學(xué)成分、幾何形狀等信息識別您的樣品并為它們做分類，以超快的速度、的識別準(zhǔn)確度全自動支持您的生產(chǎn)、檢測環(huán)節(jié)。該系統(tǒng)高度自動化，可同時測試多組樣品，測試所耗時間成本得到巨大幅度的下降。

當(dāng)我們把樣品外包給檢測公司時，一般都要等十個工作日左右才能取回結(jié)果，但使用 Particle X 這套系統(tǒng)一天就可以出結(jié)果。其操作簡單，上手速度快，企業(yè)內(nèi)部更多的工作人員可以用它進(jìn)行快速的顆粒和材料分析。 除了幫助企業(yè)節(jié)省出了外包送檢的時間，Phenom Particle X 桌面電鏡的便捷還可以釋放很大一部分企業(yè)中其他大型 SEM 的壓力，承擔(dān)起日常樣品觀察、成分分析等責(zé)任。